反射式灰卡 940nm反射率70%

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CP-TOF70-R4X

反射式灰卡 940nm反射率70%

为满足ToF(飞行时间)摄像头在不同距离与不同反射率条件下的准确测距需求，研鼎科技推出了适用于940nm波段的反射率测试卡。产品覆盖5%、10%、20%、50%、70%、90%多种标准反射率值，支持定制反射率及尺寸，以满足多样化测试场景需求。

关键参数

多反射率设计：提供6种标准反射率(5%、10%、20%、50%、70%、90%)，帮助全面评估ToF系统在不同光学条件下的测距性能。
高平整度硬板装裱：采用高品质硬质基板，保证测试卡表面平整度，有效降低因形变带来的误差，提升测试精度。
支持定制化：可根据需求提供不同反射率组合、尺寸定制及其他波段的定制服务，适应研发与生产多场景测试需求。

产品详情

为满足ToF测试在不同距离和不同反射率条件下的准确测距需求，研鼎提供了适用于940nm波段的不同反射率测试卡。我们支持定制反射率，而且这些测试卡采用了平整度较高的硬板装裱，以确保测试结果的精准性。

项次	型号	料号	尺寸	图片
1	5% IR反射率灰色测试卡	CP-TOF05-R4X	1600x1000mm
2	10% IR反射率白色测试卡	CP-TOF10-R4X	1600x1000mm
3	20% IR反射率灰色测试卡	CP-TOF20-R4X	1600x1000mm
4	50% IR反射率白色测试卡	CP-TOF50-R4X	1600x1000mm
5	70% IR反射率灰色测试卡	CP-TOF70-R4X	1600x1000mm
6	90% IR反射率白色测试卡	CP-TOF90-R4X	1600x1000mm
7	6阶反射卡	CP-TOF101-R2X	高度600mm 宽度300mm
8	点图	CP-TOF102-R4X	1500x1000mm
9	梳状图	CP-TOF103-R2X	1000x800mm
10	3D棋盘卡	CP-TOF104-R4X	1000x1200mm