图像传感器光电性能测试系统
图像传感器光电性能测试系统
图像传感器光电性能测试系统 - Image 1
图像传感器光电性能测试系统 - Image 2
图像传感器光电性能测试系统 - Image 3

CIS3-CE

图像传感器光电性能测试系统

CIS3-CE 图像传感器光电性能测试系统支持 EMVA 1288 4.0 标准定义的全部必测项的测量，可自动完成图像传感器光电性能测试所需的图像采集、计算分析与报告生成。该系统兼容S/C/CS镜头卡口，支持最大1英寸规格的图像传感器，适用于工作在可见光、近红外波段的车载相机、机器视觉相机等的图像传感器光电性能测试。

关键参数
  • 可测量DUT类型：车载相机/机器视觉相机,单通道/多通道,无镜头,线性/非线性
  • 光源类型：8通道 LED（460/470/520/530/605/630/850/940nm）
  • 探测器类型：紫外增强硅探测器
  • 波长范围：200nm-1100nm
  • 可测量传感器靶面尺寸：18mm

产 品 详 情

CIS3-CE是一套符合EMVA 1288 4.0 标准的图像传感器光电性能测试，系统支持标准定义的全部必测项的测量，可自动完成图像传感器光电性能测试所需的图像采集、计算分析与报告生成。该系统兼容S/C/CS镜头卡口，支持最大1英寸规格的图像传感器，适用于工作在可见光、近红外波段的车载相机、机器视觉相机等的图像传感器光电性能测试。

image.png

image.png

image.pngimage.pngimage.png

技 术 参 数

详细技术参数与规格

型号CIS3-CE
产品名称图像传感器光电性能测试系统
光源光源类型8 通道 LED
光源峰值波长(标称值)460/470/520/530/605/630/850/940 nm
半高全宽(标称值)20/25/30/20/15/21/35/45 nm
通讯与控制接口RS-485
额定功耗(单通道)15 W
光功率计探测器类型紫外增强硅探测器
波长范围200 nm-1100 nm
可测量功率20 pW-40 mW
准确度0.25%
通讯与控制接口USB 2.0
DUT(被测设备)可测量 DUT 类型车载相机/机器视觉相机,单通道/多通道,无镜头,线性/非线性
兼容 DUT 镜头接口S/C/CS
可测量传感器靶面尺寸18 mm
工作 f/#f/8.0
一般规格外形尺寸(长x宽x高)805 mmx472 mm x 360 mm
净重20 kg
电源输入100-240 VAC, 50/60 Hz
配置清单LED 积分球光源x1
光功率计(含探头)x1
图像采集卡(适配集成 SerDes 加串器的车载相机模组)x1
CIS-Analyzer 专业软件(附带 USB Dongle)