TOF自动化测试系统

产 品 特 点

了解先进功能与优势

图卡自动切换

支架可夹持多张测试图卡,按预设程序自动切换,满足多样化测试场景需求。

测试距离灵活调整

移动导轨可精准设定相机与图卡间距离,适配不同测量标准。

一体化多维测试能力

配备专业标准化测试图卡,集成深度信息、反射率、锐度反射率、畸变、清晰度、深度等测试模块。

智能程序化控制

软件界面直观,操作便捷,支持C/C++ API和GUI,便于自动化集成。

产 品 详 情

TOF自动化测试系统是一款专为TOF传感器及相机测试而设计的多维度综合测试平台。TOF(Time of Flight)是一种通过利用照射波和反射波之间的时间差来测量物体距离的测距方法。使用TOF的距离图像传感器,可以通过照射红外光等光源,测量每个像素的距离并记录深度信息,从而获取目标的三维结构。
本系统包含图卡切换系统、自动化移动轨道、图卡套装、导轨平台,可进行自动化距离测试、深度信息检测、反射率检测、多距离测试等多维度项目,全面满足TOF传感器和相机的测试需求。

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▋ 产品特点


  • 图卡自动切换
    支架可悬挂多张测试图卡,按预设程序自动切换,满足多样化测试场景需求。

  • 测试距离灵活调整
    移动导轨可精准设定相机与图卡间距离,适配不同测量标准。

  • 一体化多维测试能力
    配备专业标准化测试图卡,集成深度信息、反射率、锐度反射率、畸变、清晰度、深度等测试模块。

  • 智能程序化控制
    软件界面直观,操作便捷,支持C/C++ API和GUI,便于自动化集成。


 系统配备各类专业测试图卡:


  • 深度信息检测:3D深度测试卡,12级深度块,每块间隔2mm,覆盖8~30mm。

  • 反射率图卡:CP-TOF05-R4X~CP-TOF90-R4X,针对940nm不同反射率5%-90%。

  • 锐度反射率:六阶反射卡CP-TOF101-R2X,角度5°,300x600mm。

  • 畸变图卡:4点图CP-TOF102-R4X,1500x1000mm,测试锐度和反射率。

  • 清晰度图卡:梳状图CP-TOF103-R2X,1000x800mm,间距3~25mm。

  • 深度图卡:3D棋盘格CP-TOF104-R4X,1000x1200mm,高度覆盖10~70mm。

技 术 参 数

详细技术参数与规格

一般规格型号TOF自动化测试系统
物理尺寸10,600mmx3,800mmx2,030mm
质量约1,500kg
存储环境温度10-30°C
使用环境温度23-27°C(建议),18-28°C(容许)
输入电源规格AC220V~27.0A,50/60Hz
额定功率5,940W
自动图卡切换支架自动图卡切换支架X轴移动距离850mm
Y轴移动距离1,650mm
图卡中心距地面高度1,350mm
图卡与测试设备最小距离0mm
最大支持图卡尺寸1,600x1,000mm
最大支持图卡数量5张
最大支持图卡重量120kg
图卡重复定位精度(x,y)0.1mm
图卡重复定位精(RX,Ry,Rz)±0.5°
图卡更换时间≤60s
加减速稳定时间≤3s
移动导轨移动导轨X轴行程8,000mm
Y轴行程1,000mm
Z轴行程1,000mm
控制与接口控制方式计算机程控
控制接口USB2.0 Type-B/网口
配套软件TOF自动测试系统(支持Windows10/11)
API接口支持C/C++ DLL调用,开放SDK
其它包装清单电源线x1、规格书x1、使用手册x1、检测报告x1、电气配电柜x1、网线x1